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◇ 微細構造分析

走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）等によるナノ・マイクロスケールの微細な構造観察の他、エネルギー分散X線分光法（EDX）による元素組成分析、X線回折装置（XRD）による結晶構造の解析等により、様々な材料の微細構造の分析を行っています。

樹脂や黒鉛からなる炭素材料に対して、XRDを用いた結晶構造やその配向性の調査を行い、強度や硬度等の材料的特性との関係を研究しています。